技术指标

分析元素范围：硫（S）～铀（U）
同时检测元素：最多24个元素，多达5层镀层
检出限：可达2ppm，最薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9%
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）
重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
微孔准直技术：zui小孔径达0.1mm,zui小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 最高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：15℃～30℃

南京沃拓仪器设备有限公司

镀层测厚仪Thick 8000